自動光學檢查 AOI

缺陷檢測AOI指標

缺陷檢測AOI指標

運用AI輕易的找出人員難以查驗的瑕疵和錯誤。無論是各種產業,如半導體業、電子業或傳產業,都可達到快速又超高標辨識率。
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詳細介紹

AOI(Automated Optical Inspection縮寫)的中文全稱是自動光學檢測,是新興起的一種新型測試技術,基於光學原理來處理缺陷。
鉬可可提供自主開發,配合客戶不同缺陷以及不同器件定制化回應速度快。在檢測下输出die不良分布图以及缺陷分布图;通過監視器自動檢測物鏡2X,5X,7.5X,10X,20X資料分析測量系統,晶圓真空吸附chuck,wafer預對準系統,並採集影像,與資料庫中的合格的參數進行比較,經過圖像處理,檢查出缺陷,提供人員修整數據和標誌,减少修理成本並提高生產效率。